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ICT測(cè)試出現(xiàn)短路、開(kāi)路誤測(cè)可能由那些原因造成
日期：2025-04-30 17:04
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摘要：
一，短路
1. 治具本身原因
A， 治具壓棒沾錫渣造成短路
B， 治具雜物介入造成短路
C， 治具TESTJET短路
D， 探針碰觸造成短路
2. 機(jī)器短路造成，如開(kāi)關(guān)板，電源**
3. 程式錯(cuò)誤，與待測(cè)板不符
4. 排線(xiàn)接入錯(cuò)誤
二，開(kāi)路
1.治具原因造成開(kāi)路
A，探針偏移接觸不到
B，治具雜物介入造成開(kāi)路
C，治具探針接線(xiàn)松脫
2.機(jī)器原因造成，如開(kāi)關(guān)板**
3.程式錯(cuò)誤，與待測(cè)板不符
4.排線(xiàn)...
一，短路
1. 治具本身原因
A， 治具壓棒沾錫渣造成短路
B， 治具雜物介入造成短路
C， 治具TESTJET短路
D， 探針碰觸造成短路
2. 機(jī)器短路造成，如開(kāi)關(guān)板，電源**
3. 程式錯(cuò)誤，與待測(cè)板不符
4. 排線(xiàn)接入錯(cuò)誤
二，開(kāi)路
1.治具原因造成開(kāi)路
A，探針偏移接觸不到
B，治具雜物介入造成開(kāi)路
C，治具探針接線(xiàn)松脫
2.機(jī)器原因造成，如開(kāi)關(guān)板**
3.程式錯(cuò)誤，與待測(cè)板不符
4.排線(xiàn)接入錯(cuò)誤及排線(xiàn)未接上
5.排線(xiàn)**